? FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® 210
? FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® 220
? FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® 240
在電鍍或電子元件生產(chǎn)過(guò)程中需要快速且**地測定鍍層厚度時(shí),XUL® 系列測量?jì)x器是您的*選解決方案。X 射線(xiàn)熒光儀器可自下而上進(jìn)行測量,能夠在測量臺上對樣品進(jìn)行輕松定位。該系列的所有 X 射線(xiàn)儀器均配備相同的探測器。您可以根據自己的測量需求選擇不同的準直器、濾波器以及 X 射線(xiàn)管。XULM適合測量小的結構。它配備了微聚焦管,測量點(diǎn)*小可達約100μm,同時(shí)比例接收器仍然可以保持相對高的計數率。即使很短的測量時(shí)間也可以達到很好的重復精度。此外,XULM配備了可自動(dòng)切換的準直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應用創(chuàng )造*佳的激勵條件。 ?
。 憑借寬大的測量室和自下而上的測量方向,即使大型樣品(如:印制電路板或柔性電路板)也可簡(jiǎn)便、快速地定位
。 硬件選項豐富多樣,可滿(mǎn)足各種測量需求
。 可選配微聚焦 X 射線(xiàn)管,從而可測量直徑*為 100 µm 的微型結構和測量表面
。 鉻鍍層,如:經(jīng)過(guò)裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
。 防腐蝕鍍層,如鋼材上的鋅鍍層
。 印制電路板和柔性電路板上的鍍層
。 接插件和連接器上的鍍層
。 電鍍槽液分析
。 帶玻璃窗口和鎢靶的X射線(xiàn)管或帶鈹窗口和鎢靶的微聚焦X射線(xiàn)管。 *高工作條件:50KV,50W
。 X射線(xiàn)探測器采用比例接收器
。 準直器:固定或4個(gè)自動(dòng)切換,0.05 x0.05mm到直徑00.3mm
。 基本濾片:固定或3個(gè)自動(dòng)切換
。 測量距離可在0-27.5mm范圍內調整
。 固定的樣品支撐臺或手動(dòng)X(jué)Y工作臺
。 攝像頭用來(lái)查看基本射線(xiàn)軸向方向的測量位置。 刻度線(xiàn)經(jīng)過(guò)校準, 顯示實(shí)際測量點(diǎn)大小。
。 設計獲得許可, 防護**, 符合德國X射線(xiàn)條例第4章第3節